Probabilistische Methode zur Generierung von Stimuli zum Test zustandsbasierter, reaktiver Elektroniksysteme im Automobil

Heutige Elektroniksysteme im Automobil zeichnen sich dadurch aus, dass aufgrund der Komplexität der Steuergeräte unter Berücksichtigung der Ausstattungs-, Länder und Motorvarianten kein vollständiger Test der (vernetzten) Funktionen möglich ist – es muss quasi ein Stichprobentest durchgeführt werden. In dieser Veröffentlichung wird ein Verfahren zum Test von zustandsbasierten und reaktiven Systemen im Automobil vorgestellt, welche hauptsächlich im Komfort-Bereich eines Fahrzeugs präsent sind. Dieses Verfahren ist ein struktur-funktionales Verfahren, welches auch nicht-naheliegende Testszenarien generieren kann und somit das Potenzial hat, auch sporadische Fehler zu ? nden. Es liefert weiterhin Aussagen zur Testabdeckung in Form bekannter Metriken, wie beispielsweise der Zustandsabdeckung oder MC/DC. Das entwickelte Verfahren wird auf zwei Anwendungsbeispiele der Industrie angewendet, nämlich dem Kombiinstrument eines Oberklassenfahrzeugs und der elektrischen Lenksäulenverriegelung. Dabei wurden Testlisten mit grösstmöglicher Abdeckung generiert und die Leistungsfähigkeit dieser Methode anhand verschiedener Gütekriterien bewertet.