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Diese Arbeit beschreibt den neuartigen Einsatz von breitbandigen kontinuierlichen Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-On-Wafer-Messtechnik durch die Integration in On-Wafer-Messspitzen. Eine modellbasierte Methode für den effizienten Entwurf von Frequenzweichen mit einer Vielzahl einstellbarer Parameter ermöglicht die erstmalige Realisierung einer DC – 110 GHz – 170 GHz Frequenzweiche. - This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realization of a DC – 110 GHz – 170 GHz diplexer for the first time.
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Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik, Florian Klaus Boes
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 2021
- Einband
- (Paperback)
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- Titel
- Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik
- Sprache
- Deutsch
- Autor*innen
- Florian Klaus Boes
- Erscheinungsdatum
- 2021
- Einband
- Paperback
- Seitenzahl
- 216
- ISBN10
- 3731510782
- ISBN13
- 9783731510789
- Reihe
- Schlagwörter
- Architektur
- Beschreibung
- Diese Arbeit beschreibt den neuartigen Einsatz von breitbandigen kontinuierlichen Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-On-Wafer-Messtechnik durch die Integration in On-Wafer-Messspitzen. Eine modellbasierte Methode für den effizienten Entwurf von Frequenzweichen mit einer Vielzahl einstellbarer Parameter ermöglicht die erstmalige Realisierung einer DC – 110 GHz – 170 GHz Frequenzweiche. - This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realization of a DC – 110 GHz – 170 GHz diplexer for the first time.