This book explores the growing interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity, driven by advancements in the semiconductor industry and material research. It focuses on the significance of thin layers in optoelectronics, their interface quality, and the unique properties of thin metallic layers, including colossal magnetoresistance.
This critical overview presents experimental methods for solving most frequent structural problems of mono-crystalline thin films and layered systems, including thickness, crystalline state, strain distribution, interface quality and other properties.
Publikace představuje učebnici práva obchodních korporací a navazuje na učebnici práva cenných papírů, která v rámci série Základů soukromého práva vyšla v roce 2016. Je založena na obdobných principech, kterými jsou jednoduchost a jasnost výkladu, přívětivá a názorná grafická stránka a velké množství příkladů vycházejících ze zkušeností autorů s aplikací práva obchodních korporací v praxi. Zásadní devizou publikace je také skutečnost, že se autoři nebojí vyjádřit své názory na sporná ustanovení obecné části zákona o obchodních korporacích a přispět tak svým úsilím k hledání jejich správné interpretace. Knihu by tak měli ocenit nejen studenti právnických fakult a jiných oborů, v rámci nichž se právo obchodních korporací vyučuje, ale také ti, kdo se právem obchodních korporací zabývají profesně.