Inhaltsverzeichnis1. Einleitung.2. Grundlagen der Sekundärionenemission.3. Die statische Methode der Sekundärionen-Massenspektrometrie.4. Apparatur.5. Die chemische Sekundärionenemission von Anionenkomplexen.6. Abtragung monomolekularer und mehrere Monolagen dicker Schichten durch Ionenbeschuß.7. Die Oxidation von Metallen im Monolagenbereich.8. Das Wertigkeitsmodell.9. Anwendung des Wertigkeitsmodells auf Sauerstoffexposition und Ionenbeschußdesorption (“dynamisches Wertigkeitsmodell”).10. Die Grenzen der Anwendbarkeit des Wertigkeitsmodells.Literatur.Tabellen.Abbildungen.
