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Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop
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Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop
Autoren
Mathias Göken
Parameter
ISBN
9783183175185
Verlag
VDI-Verl.
Kategorien
Skripten & Universitätslehrbücher
Fortschrittberichte VDI : Reihe 18, Mechanik, Bruchmechanik
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