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Streulicht- und Rastertunnelmikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen
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Streulicht- und Rastertunnelmikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen, Ralf Kumpe
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 1997
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- Titel
- Streulicht- und Rastertunnelmikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen
- Sprache
- Deutsch
- Autor*innen
- Ralf Kumpe
- Verlag
- VDI-Verl.
- Erscheinungsdatum
- 1997
- ISBN10
- 3183259095
- ISBN13
- 9783183259090
- Reihe
- Fortschrittberichte VDI : Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik
- Kategorie
- Skripten & Universitätslehrbücher