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Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren
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Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren, Reiner Schieck
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 1998
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- Titel
- Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren
- Sprache
- Deutsch
- Autor*innen
- Reiner Schieck
- Verlag
- Shaker
- Erscheinungsdatum
- 1998
- ISBN10
- 3826539958
- ISBN13
- 9783826539954
- Reihe
- Berichte aus der Halbleitertechnik
- Kategorie
- Skripten & Universitätslehrbücher