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Stabilität von Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen auf hexagonalem Siliciumkarbid

Autoren

Michael Treu

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Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Erlanger Berichte Mikroelektronik

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Stabilität von Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen auf hexagonalem Siliciumkarbid, Michael Treu

Sprache
Erscheinungsdatum: 1999

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