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Metallhaltige amorphe Kohlenwasserstoffschichten (Me-C: H) bestehen aus einem Kohlenwasserstoff-Basismaterial, in welches metallische Partikel von wenigen Nanometern Größe eingelagert sind. Aufgrund ihrer ausgezeichneten mechanisch-tribologische Eigenschaften werden sie industriell als reibungs- und verschleißmindernde Schichten auf Bauteilen, Lagern, Werkzeugen etc. eingesetzt. n der Forschungsarbeit wird am Beispiel verschiedener Me-C: H Schichten gezeigt, wie mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie (STM) quantitative Informationen über Größen- und Abstandsverteilungen von Nanopartikeln in dünnen Schichten erlangt werden können. Die Ergebnisse werden verglichen mit Untersuchungen mittels Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM), Röntgenkleinwinkel- und Röntgenweitwinkelstreuung (SAXS, XRD). Darüber hinaus wurden mit Hilfe des Rasterkraftmikroskopes (AFM) mikrotribologische Untersuchungen an Me-C: H Schichten durchgeführt. Sie zeigen den Einfluß der Schicht-Mikrostruktur (Nanopartikel, Wachstumssäulen) auf Reibung und Verschleiß und belegen die Bedeutung der Materialermüdung bei Verschleißprozessen. Es werden Modelle vorgestellt, mit denen Reibungs- und Verschleißmessungen auf der Mikroskala quantitativ beschrieben werden können.
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Mikrostruktur und Mikrotribologie von amorphen metallhaltigen Kohlenwasserstoffschichten, Kirsten Ingolf Schiffmann
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 1997
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- Titel
- Mikrostruktur und Mikrotribologie von amorphen metallhaltigen Kohlenwasserstoffschichten
- Sprache
- Deutsch
- Autor*innen
- Kirsten Ingolf Schiffmann
- Verlag
- Fraunhofer-IRB-Verl.
- Erscheinungsdatum
- 1997
- ISBN10
- 3816751415
- ISBN13
- 9783816751410
- Kategorie
- Skripten & Universitätslehrbücher
- Beschreibung
- Metallhaltige amorphe Kohlenwasserstoffschichten (Me-C: H) bestehen aus einem Kohlenwasserstoff-Basismaterial, in welches metallische Partikel von wenigen Nanometern Größe eingelagert sind. Aufgrund ihrer ausgezeichneten mechanisch-tribologische Eigenschaften werden sie industriell als reibungs- und verschleißmindernde Schichten auf Bauteilen, Lagern, Werkzeugen etc. eingesetzt. n der Forschungsarbeit wird am Beispiel verschiedener Me-C: H Schichten gezeigt, wie mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie (STM) quantitative Informationen über Größen- und Abstandsverteilungen von Nanopartikeln in dünnen Schichten erlangt werden können. Die Ergebnisse werden verglichen mit Untersuchungen mittels Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM), Röntgenkleinwinkel- und Röntgenweitwinkelstreuung (SAXS, XRD). Darüber hinaus wurden mit Hilfe des Rasterkraftmikroskopes (AFM) mikrotribologische Untersuchungen an Me-C: H Schichten durchgeführt. Sie zeigen den Einfluß der Schicht-Mikrostruktur (Nanopartikel, Wachstumssäulen) auf Reibung und Verschleiß und belegen die Bedeutung der Materialermüdung bei Verschleißprozessen. Es werden Modelle vorgestellt, mit denen Reibungs- und Verschleißmessungen auf der Mikroskala quantitativ beschrieben werden können.