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Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Autoren

Frank Siegelin

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ISBN: 9783831601929
Verlag: Utz, Wiss.

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Buchvariante

2003, paperback

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