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Transient ion beam induced charge currents microscopy on high power semiconductor devices
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Transient ion beam induced charge currents microscopy on high power semiconductor devices, Markus Zmeck
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 2004
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- Titel
- Transient ion beam induced charge currents microscopy on high power semiconductor devices
- Sprache
- Englisch
- Autor*innen
- Markus Zmeck
- Verlag
- Shaker
- Erscheinungsdatum
- 2004
- Einband
- Paperback
- ISBN10
- 3832234284
- ISBN13
- 9783832234287
- Reihe
- Berichte aus der Energietechnik
- Kategorie
- Skripten & Universitätslehrbücher