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Schätzskalen zum kurzfristigen Beanspruchungserleben (SKB-Verfahren)

Autoren

Winfried Hacker

Parameter

ISBN: 9783867802635
Verlag: Inst. für Psychologie I, Arbeitsgruppe Wissen - Denken - Handeln

Kategorien

Psychologie
Projektberichte / Technische Universität Dresden, Fakultät Mathematik und Naturwissenschaften, Fachrichtung Psychologie, Institut für Psychologie I, Arbeitsgruppe "Wissen - Denken - Handeln"

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2012

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