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Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen
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Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen, Olaf Stern
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 1996
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- Titel
- Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen
- Sprache
- Deutsch
- Autor*innen
- Olaf Stern
- Verlag
- VDI-Verl.
- Erscheinungsdatum
- 1996
- ISBN10
- 3183240092
- ISBN13
- 9783183240098
- Reihe
- Fortschrittberichte VDI : Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik
- Kategorie
- Skripten & Universitätslehrbücher