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Zur "spannungsinduzierten elektrochemischen Degradation" (SIED) der inneren Leitschicht kunstoffisolierter Mittelspannungskabel

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Zur "spannungsinduzierten elektrochemischen Degradation" (SIED) der inneren Leitschicht kunstoffisolierter Mittelspannungskabel, Kai Steinfeld

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Erscheinungsdatum
1998
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