Electrically conductive adhesive contacts characterised by the 1/f noise behaviour

Es besteht heutzutage zunehmendes Interesse am Einsatz von elektrisch leitfähigen Klebstoffen nicht nur in Kontaktierungen zwischen Flüssigkristallanzeigen und Leiterplatten, sondern auch in Kontakten, die höhere Ströme leiten müssen, wie Flip-Chip- oder Starr-Flex-Verbindungen, z. B. in Kraftfahrzeuganwendungen. 1/f-Rauschmessungen sind allgemein bekannt als Methode zu Untersuchung der Kontaktqualität, der Lebensdauer von IC-Metallisierungen und der Zuverlässigkeit von Halbleiterbauelementen. Widerstandsfluktuationen (die unter Rauschen zu verstehen sind) werden durch Fluktuationen der Elektronenbeweglichkeit hervorgerufen. In Stromeinschnürungen, z. B. in einem Punktkontakt, steigt die Rauschamplitude in einer charakteristischen Art und Weise an. Dieser Effekt ermöglicht die Charakterisierung des Punktkontaktverhaltens, d. h. der Anzahl und Größe von leitenden Berührungspunkten. In dieser Studie werden zum ersten Mal Rauschmessungen angewendet, um die Qualität von leitfähigen Klebkontakten vor und während Strom- und thermischen Schock-Schädigungen zu beobachten. Außerdem wird die Frage von strominduzierter Elektromigration behandelt. Aus den Ergebnissen folgt, dass die Plasmabehandlung der Substrate eine Möglichkeit darstellt, die Klebkontaktqualität zu verbessern. Darüber hinaus sind elektrisch leitfähige Klebkontakte in der Lage, höhere Ströme als in heutigen Anwendungen zu tragen. Es wird zudem eine Technik vorgestellt, mit der anisotrope Leitklebverbindungen mit nur einem Leitpartikel hergestellt werden können, um verschiedene Ausfallmechanismen zu separieren und Rauschmessungen zu ermöglichen.