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Untersuchungen an IGBT-Modulen zur Reduktion von Degradationsprozessen im Packaging von Leistungshalbleitern

Autoren

Thomas Ebke

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Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Berichte aus der Elektrotechnik

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Untersuchungen an IGBT-Modulen zur Reduktion von Degradationsprozessen im Packaging von Leistungshalbleitern, Thomas Ebke

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Erscheinungsdatum: 2003
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