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A new technique for deterministic scan based built in self test (BIST)

Autoren

Huaguo Liang

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Kategorien

Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Berichte aus der Informatik

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A new technique for deterministic scan based built in self test (BIST), Huaguo Liang

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Erscheinungsdatum: 2003
product-detail.submit-box.info.binding: (Paperback)

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