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Scanning Electron Microscopy. A Student's Handbook, Michael T. Postek, Kathlyn L. McMichael, Arthur H. Johnson, Karen S. Howard
- Mechanische Beschädigung
- Sprache
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- (Paperback)
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- Titel
- Scanning Electron Microscopy. A Student's Handbook
- Sprache
- Deutsch
- Verlag
- Ladd Research Industries
- Einband
- Paperback