Sebastian Huhn Reihenfolge der Bücher

Das Buch präsentiert innovative Ansätze zur Entwicklung der nächsten Generation integrierter Schaltungen für sicherheitskritische Anwendungen. Es behandelt zentrale Herausforderungen im Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit und kombiniert formale Techniken wie das Satisfiability (SAT)-Problem und Bounded Model Checking (BMC). Detaillierte Diskussionen und umfassende Evaluierungen anhand industrie-relevanter Benchmarks verdeutlichen die Wirksamkeit der Methoden. Zudem wird ein integriertes Framework vorgestellt, das standardisierte Software/Hardware-Schnittstellen implementiert.

Focusing on advancements in integrated circuits, the book presents innovative strategies for enhancing design reliability and testability, particularly in safety-critical applications. It explores formal techniques like the Satisfiability (SAT) problem and Bounded Model Checking (BMC) to tackle challenges related to test data volume and application time. Detailed discussions and extensive evaluations of these methods are provided, alongside industry-relevant benchmarks. The authors integrate these approaches into a unified framework with standardized software and hardware interfaces.