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Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden
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Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden, Christine Schmidt-König
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 2000
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- Titel
- Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden
- Sprache
- Deutsch
- Autor*innen
- Christine Schmidt-König
- Verlag
- Shaker
- Erscheinungsdatum
- 2000
- ISBN10
- 3826569369
- ISBN13
- 9783826569364
- Kategorie
- Skripten & Universitätslehrbücher